測試波形分析與定標(biāo)--閃絡(luò)法

閃絡(luò)法測試時(shí)故障點(diǎn)不放電波形

對于有些高阻故障，加高壓沖擊時(shí)，雖然球間隙放電，并且有時(shí)放電聲還較大（干脆），但故障點(diǎn)實(shí)際上并未形成閃絡(luò)放電，而是將電能緩慢釋放掉，這時(shí)，顯示波形就無法確定故障點(diǎn)。故障點(diǎn)不放電時(shí)，從波形上可顯示出來，從而可以采取其它測試方法迫使故障點(diǎn)放電。閃絡(luò)測試故障點(diǎn)不放電波形如圖6.4所示：

　　　           圖6.4　閃絡(luò)測試故障點(diǎn)不放電波形

波形特點(diǎn)：故障點(diǎn)不放電波形特點(diǎn)為發(fā)射脈沖為正波形，一次反射脈沖為負(fù)波形，二次反射波形又為正波形，以此類推。同時(shí)，發(fā)射波形同反射波形間距離等于電纜全長。

遇到故障點(diǎn)不放電波形時(shí)，可按以下幾種方法迫使故障點(diǎn)閃絡(luò)放電：一是加大放電球隙，提高沖擊電壓；二是加大電容容量，增加沖擊能量；三是對放電球隙間距未變，但放電電壓越來越高，但仍顯示不放電波形的故障，可用直閃法測試。對于疑難故障，可長時(shí)間施加沖擊高壓，迫使故障點(diǎn)形成固定放電通道，然后進(jìn)行測試。

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